晶片推力测试机芯片推拉力机 返回列表页

设备采用进口传动部件，三工位自动旋转切换，霍尔双摇杆四向操作，匹配工厂MES系统，精密动态传感采集技术，确保测试数据精度的真实性，稳定性，快捷性。推拉力检测仪，很多朋友又称它为多功能剪切力测试仪，主要是用于光模块、TO封装、5G光器件封装、合金线、粗铝线键合汽车电子、航空航天、微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，具有测试动作迅速、准确、适用面广的特点。亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究。晶片推力测试机芯片推拉力机

产品优势：

1.采用测试工位自动模式，在软件选择测试工位后，系统自动到达对应工作位。晶片推力测试机芯片推拉力机

2.三个工作传感器，采用独立采集系统，保证测试精度。

3.每项传感器采用独立防碰撞及过力保护系统。

4.每项测试工位采用独立安全限位及限速功能。

5.人性化的操作界面，人员操作方便。

6.高精度传感系统结合力学算法，确保测试的精度。

产品特点：

1.采用精密动态传感采集技术，确保测试数据精度的真实性。

2.采用进口传动部件，确保机台运行稳定性及测试精度。

3.三工位自动旋转切换，避免因人员误操作带来的设备损坏。

4.霍尔双摇杆四向操作，让操作简单、方便。

5.匹配工厂MES系统。

6.测试数据实时保存与导出，方便快捷。

测试参数：

设备型号：LB-8500L

外型尺寸：1500*1200*1600

设备重量：约850KG

电源供应：110V/220V@4.0A   50/60HZ

压缩空气：4.5-6Bar

真空输出：500mm Hg

控制电脑：联想PC

软件运行：Windows7/Windows10

显微镜：三目影像显微镜

传感器更换方式：自动切换或手动更换测试模块

平台治具：平台共用多种测试治具，按客户样品量身设计匹配治具

XY轴有效行程：X轴有效行程500mm，Y轴有效行程300mm，可按客户产品订制具体尺寸

Z轴有效行程：80mm

XY轴分辩率：±1um    Z轴分辩率±1um

传感器精度：传感器精度±0.003％；综合测试精度±0.25％