武汉市艾德宝仪器设备有限公司

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日本filmetrics自动膜厚测量系统图片

2025-07-14 11:18:304

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厂商性质:其他
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日本filmetrics自动膜厚测量系统F50主要特点结合基于光学干涉原理的膜厚测量功能和自动高速载物台的系统以过去无法想象的速度测量点的膜厚和折射率兼容2英寸至450毫米的硅基板，可任何测量点

图片来源：

/chanpin/7389688.html

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